DIC 2022展商丨布魯克，提供不同維度表面表征測(cè)試的多種應(yīng)用方案
2022-09-23 16:06:58
公司簡(jiǎn)介
布魯克（北京）科技有限公司（展位號(hào)：E107）。布魯克是全球領(lǐng)先的分析儀器公司，布魯克納米表面儀器部作為其下屬事業(yè)部，一直著眼于研發(fā)新的表面計(jì)量、檢測(cè)方法和工具，提供不同維度的表面表征測(cè)試的多種應(yīng)用方案。
公司的核心產(chǎn)品有原子力顯微鏡、探針式輪廓儀、納米壓痕儀、三維光學(xué)輪廓儀、摩擦磨損測(cè)試機(jī),、SEM/TEM 原位力學(xué)桿等。這些設(shè)備適用于從高校研究所到工業(yè)領(lǐng)域的材料、化學(xué)、生命科學(xué)、物理、LED、太陽(yáng)能、觸摸屏、半導(dǎo)體、通信以及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)等領(lǐng)域進(jìn)行科學(xué)研究、產(chǎn)品開(kāi)發(fā)、質(zhì)量控制及失效分析的準(zhǔn)確、高效分析測(cè)試的要求，幫助我們的客戶在各自的表面測(cè)量測(cè)試應(yīng)用中解決面臨的問(wèn)題，提升技術(shù)和工藝水平，提高研發(fā)效率，從而實(shí)現(xiàn)最大限度的回報(bào)。
明星產(chǎn)品
先進(jìn)薄膜與微結(jié)構(gòu)表面力學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)，用于顯示材料表面各種材質(zhì)薄膜的力學(xué)性能測(cè)試，以及膜層間結(jié)合力測(cè)試。設(shè)備還可搭配溫度、氣氛控制器，實(shí)現(xiàn)多樣化測(cè)試。
大樣品、全探針閉環(huán)掃描的低噪聲和低熱漂移原子力顯微鏡系統(tǒng)，可用于石墨烯等材料及器件的形貌、電學(xué)、電化學(xué)、力學(xué)、熱學(xué)等性質(zhì)測(cè)量。設(shè)備的大樣品臺(tái)空間可提供外加磁場(chǎng)、光場(chǎng)、探針臺(tái)、拉曼、拉伸臺(tái)等多場(chǎng)耦合測(cè)試?？捎糜贚TPS、OLED、Micron-LED等的表面和微納結(jié)構(gòu)測(cè)量。
全自動(dòng)三維形貌測(cè)量平臺(tái)，采用非接觸干涉原理精確測(cè)量樣品表面三維形貌，獲得粗糙度、關(guān)鍵尺寸：如Photo Spacer的直徑和高度以及蒸鍍和噴墨打印OLED膜層厚度等數(shù)據(jù)，也可用于表面缺陷的觀測(cè)。獲得的結(jié)果準(zhǔn)確、可重復(fù)、可溯源。
納米空間分辨紅外成像和光譜的材料表征系統(tǒng)，其采用獨(dú)有專利的光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)（PTIR，也稱AFM-IR），使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限，達(dá)到< 10 nm空間分辨，同平臺(tái)可結(jié)合散射式近場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)（sSNOM）。可以用于石墨烯等材料的納米化學(xué)信息表征，也用于石墨烯和其范德華二維材料體系的等離激元、微區(qū)光電相互作用等納米光學(xué)研究。
探針式表面輪廓檢測(cè)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)納米尺度膜厚測(cè)量，為顯示屏制備質(zhì)量控制、流程監(jiān)控及參數(shù)優(yōu)化提供可靠數(shù)據(jù)支持。
